поиск по каталогу

Отправить письмо

На главную страницу


Лабораторное оборудование и лабораторная мебель. А также весь спектр приборов для аттестации рабочих мест и не только (газоанализаторы, аспираторы, весы, спектрофотометры и т.д.)

Каталог оборудования

Микроскоп исследовательский Биолам И



Микроскоп биологический БИОЛАМ И
предназначен для наблюдения и фотографирования объектов в проходящем и отраженном свете для исследования в лабораторных условиях.

При освещении объектов проходящим светом исследования проводятся с помощью планопохроматических объективов в светлом поле (прямое и косое освещение) и темном поле.
Для создания оптимальных условий освещения в проходящем свете предусмотрена панкратическая система. При работе в отраженном свете исследования могут проводиться в светлом и темном поле.
Фотографирование исследуемых объектов производится с помощью микрофотонасадки МФН-11 с бинокулярным наблюдением, входящей в комплект микроскопа. Микроскоп позволяет проводить исследования методом фазового контраста с помощью устройства КФ-4 (в комплект не входит и может быть приобретен по специальному заказу).
Микроскоп применяется для исследований в здравоохранении, экологии, биологии и других областях науки и техники.

Технические характеристики:

Увеличение микроскопа при наблюдении:

 

в проходящем свете

28 - 1100

в отраженном свете

70 - 700

Увеличение микроскопа при фотографировании

24 - 560

Увеличение объективов:

 

в проходящем свете

2,5х/0,05; 10х/0,30;

16х/0,40; 40х/0,65

60х/0,85; 100х/1,25

в отраженном свете

9х/0,20; 40х/0,65

Увеличение окуляров

7; 6,3; 10; 10 (со шкалой)

Числовая апертура конденсора КОН - 1К

1,25

Числовая апертура конденсора для освещения больших полей

0,22

Источник света: лампа накаливания

КГМ9 - 70

Габаритные размеры, мм

555 х 415 х 570

Масса, кг

21



Новости охраны труда и аттестации рабочих мест

С 01 января 2017 года вводятся в действие санитарно-эпидемиологические правила и нормативы СанПиН 2.2.4.3359-16 "Санитарно-эпидемиологические требования к физическим факторам на рабочих местах" 
Подробнее »